Comprobación de la estructura superficial

La comprobación de la estructura superficial involucra identificar las desviaciones en la estructura superficial (rugosidad, ondulación) comparadas con la superficie idealizada. Ambos métodos de contacto y sin contacto se usan para este propósito.

El método de contacto principal es usar un perfilómetro mecánico con un estilete de diamante, donde la superficie es movida relativa al estilete. Se registran los datos de medición en un perfilógramo (perfil de rugosidad), a menudo con la amplificación vertical. Para obtener resultados utilizables, la distancia de medición necesita ser lo suficientemente larga y un sistema de estilete adecuado necesita ser seleccionado. También se deben evitar las vibraciones externas. Las mediciones comparables pueden ser requeridas. Se define una línea de referencia, normalmente una línea de centro, para determinar los parámetros de superficie.

Entre los ejemplos de métodos sin contacto se incluyen la tecnología confocal, la perfilometría láser y la interferometría.

Feingestaltserfassung

Bei der Feingestaltserfassung werden Abweichungen der Feingestalt (Rauheit, Welligkeit) von Oberflächen im Vergleich zur idealisierten Oberfläche festgestellt. Dies kann mit berührenden oder berührungslosen Verfahren erfolgen.

Das wichtigste berührende Verfahren ist das Tastschnittverfahren mit einer Diamant-Tastspitze, die mittels eines Vorschubgeräts über die Oberfläche geführt wird. Die Messdaten werden in einem oft vertikal verstärkten Profilogramm (Rauheitsschriebe) aufgezeichnet. Um verwertbare Ergebnisse zu erhalten, muss die Messstrecke eine ausreichende Länge haben und das Tastsystem entsprechend der Aufgabe gewählt werden. Schwingungen von außen sind zu vermeiden. Unter Umständen sind Vergleichsmessungen erforderlich. Für eine Bestimmung der Oberflächenkennwerte wird rechnerisch eine Bezugslinie, in der Regel die Mittellinie, definiert.

Berührungslose Erfassungsmethoden sind zum Beispiel die Konfokaltechnik, die Laserprofilometrie und die Weißlichtinterferometrie.

Ascertaining surface structure

Ascertaining surface structure involves identifying deviations in the surface structure (roughness, waviness) compared with the idealised surface. Both contact and non-contact methods are used for this purpose.

The main contact method is to use a mechanical profilometer with a diamond stylus, whereby the surface is moved relative to the stylus. Measuring data is recorded in a profilogram (roughness profile), often with vertical amplification. To obtain usable results, the measuring distance needs to be sufficiently long and an appropriate stylus system needs to be selected. External vibrations should also be avoided. Comparative measurements may be required. A reference line, normally the centre line, is defined to determine the surface parameters.

Examples of non-contact methods include confocal technology, laser profilometry and white light interferometry.

确定表面结构

确定表面结构涉及确定表面结构（粗糙度、波纹度）与理想表面结构之间的偏差。接触式和非接触式方法都以此为目的。

主要的接触式方法是指利用具有金刚石触针的表面机械轮廓仪，材料表面相对于触针进行相对运动。测试数据记录在轮廓图标上（粗糙度曲线），通常也伴随着垂直方向放大处理。为了得到可靠的数据，测试距离需要足够的长，并且应当选取一个适当的触针系统。同时，应当避免外界振动。也可能需要进行对比测量。参考线（通常为中心线）可以用来确定表面参数。

非接触式方法包括共聚焦技术、激光轮廓测量法和白光干涉测量法。

近义词

接触式轮廓测量法

粗糙度轮廓

轮廓曲线