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Surface roughness metrology: The aim is to record the micro/nanogeometry of technical surfaces. It is also possible to determine the deviation between an actual surface and an ideal target surface. Given that different measurements produce differen
Oberflächenrauheitsmesstechnik: Das Ziel ist die Erfassung der Mikro- beziehungsweise Nanogeometrie technischer Oberflächen. Zudem kann die Abweichung einer realen Oberfläche von einer idealen Soll-Oberfläche bestimmt werden. Da verschiedene Me
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