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Interference microscopes are suitable for peak-to-valley height differences of approx. 2 µm.
Light interference can be used to generate a contour image for reflective and rough surfaces.
All test laboratories that perform measurements such as these need frames that do not cause interference for the electromagnetic waves that are to be measured.
In den meisten Belastungsfällen liegt eine Überlagerung verschiedener Beanspruchungsarten vor.
Die Superposition bezeichnet in der Mechanik die Überlagerung von unterschiedlich gerichteten, wirkenden Kräften F und Momenten M an einem System.