Metallographie (陰性)

Description: Metallography (also called materialography) investigates Material structures quantitatively and qualitatively as well as microscopically and macroscopically. A number of different methods and devices are available for this: In an optical microscope, beams of light are reflected at various angles to make the material sample's surface structure visible. Dark-field technology (illumination virtually parallel to the surface) or a differential interference contrast (polarised light) can be used to increase the resolution if appropriate. In a scanning electron microscope, varying numbers of secondary electrons are emitted from the samples' micro-surfaces in a rastered electron beam. A transmission electron microscope can penetrate samples with a focused, highly accelerated electron beam, provided they are sufficiently thin. During this process, the electron beam is diverted / scattered at the material's atoms. In ultrasonic microscopy, Sound waves penetrate the material with varying frequency. Phases in the sample volume can also be depicted. Quantitative testing investigates various parameters: The intercept method is used to determine grain size based on statistically representative samples. The pore sizes (phase volume fractions) can be calculated and counted using a line grid.

Description: La metalografía (también llamada materialografía) investiga las estructuras de materiales de manera cuantitativa y cualitativa, así como microscópica y macroscópicamente. Para esto, existen diferentes métodos y dispositivos disponibles: En un microscopio óptico, los haces de luz son reflejados en diferentes ángulos para hacer visible la estructura de la superficie de la muestra de material. Se puede usar la tecnología de campo oscuro (iluminación prácticamente paralela a la superficie) o un contraste de interferencia diferencial (luz polarizada) para incrementar la resolución, si es adecuado. En un microscopio electrónico de escaneo, se emiten varios electrones secundarios de las microsuperficies de las muestras en un haz de electrones tramado. Un microscopio electrónico de transmisión puede penetrar muestras con un haz de electrones enfocado altamente acelerado, siempre y cuando sean lo suficientemente delgadas. Durante este proceso, el haz de electrones es desviado/diseminado en los átomos del material. En un microscopio ultrasónico, las ondas de sonido penetran el material con frecuencias varias. Las fases en el volumen de muestra también pueden ser representadas. Las pruebas cuantitativas investigan varios parámetros: El método de intercepción se usa para determinar el tamaño del grano basado en muestras estadísticamente representativas. Los tamaños de los poros (fracciones de volumen de fase) pueden ser calculados y contados usando un molino de línea.

Description: 金相学（也称为材相学）是对材料结构从宏观层面和微观层面进行定量和定性研究的一门学科。 金相学中要用到许多不同的方法和设备： 在光学显微镜中，光的光束从各个角度被反射形成材料样品表面结构的象。可以适当使用暗场技术（光照几乎平行于表面）或微分干涉差（偏振光）以增加分辨率。 在扫描电子显微镜中，在光栅状电子束扫描下，样品的微观表面发射不同数量的二次电子。 在透射电子显微镜中，经加速和聚集的电子束穿过样品的超薄切片。在此过程中，电子束与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。 在超声显微镜中，声波以不同频率穿透材料。还可以确定取样容积中的相位。 定量试验测量了各种参数： 根据典型样品的统计数据，用截距法确定晶粒尺寸。 孔径（相体积分数）可通过网格线图来计算。